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全聚焦相控陣列超音波探傷儀
NOVASCAN
Novascan設備提供FPGA直接方式,兼具板卡功能,可向用戶輸送底層數據,更加方便研究院、高校等用戶進行自定義二次開發。
支持3D視圖,缺陷在3D工件内直觀展示,缺陷位置,大小直觀明確,性質判定更加方便快捷。
具備全新的掃查計畫流程,可實現3D聚焦法則模擬、多組同時模擬等功能,且大大簡化了用戶設置界面,能夠在最短的時間内完成工藝仿真和校準等必要步驟。
設備配備了二維編碼接口,能夠實現高速二維掃查;支持面陣、雙面陣掃查,可用於奧氏體不鏽鋼試件檢測。支持多組同時檢測,更適合進行複雜的檢測場景。
ABOUT
THIS PRODUCT
產品介紹
提供3D全聚焦功能的全新相控陣探傷儀
Novascan是一款功能齊全的相控陣檢測工具,除具備相控陣功能、獨立兩通道TOFD檢測功能外,國內外首次在便攜機上實現了3D全聚焦技術,成像清晰細膩;同時支持百萬焦點2D全聚焦成像(TFM)及全矩陣資料擷取(FMC),更清晰地顯示微小缺陷。
- 雙重角色
Novascan設備提供FPGA直接方式,兼具板卡功能,可向用戶輸送底層數據,更加方便研究院、高校等用戶進行自定義二次開發。
- 強大的3D視圖功能
支持3D視圖,缺陷在3D工件内直觀展示,缺陷位置,大小直觀明確,性質判定更加方便快捷。
- 強大的掃查工藝模擬功能
具備全新的掃查計畫流程,可實現3D聚焦法則模擬、多組同時模擬等功能,且大大簡化了用戶設置界面,能夠在最短的時間内完成工藝仿真和校準等必要步驟。
- 更全面的應用領域
設備配備了二維編碼接口,能夠實現高速二維掃查;支持面陣、雙面陣掃查,可用於奧氏體不鏽鋼試件檢測。支持多組同時檢測,更適合進行複雜的檢測場景。