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磁性/非磁性膜厚計

磁性/非磁性膜厚計
Model:QNIX 4600P

  • 測量範圍:0~2000um

  • 解析度:100um以下:0.1um 100um~1mm:1um 1mm以上:0.01mm

  • 精確度:+/-2um + 3%

  • 測頭永久免校正

  • 高抗磨損紅寶石測頭

  • 自動切換 Fe / NFe 模式

  • 自動切換適當單位(Auto-range)

  • V型凹槽設計,可測量圓管或不平表面

  • 適合嚴苛作業現場使用

  • 自動關機功能

  • 可選購外接式測頭

  • 德國Automation(QNix)

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THIS PRODUCT

產品介紹

測量範圍:0~2000um
解析度:100um以下:0.1um  100um~1mm:1um  1mm以上:0.01mm
精確度:+/-2um + 3%
測頭永久免校正
高抗磨損紅寶石測頭
自動切換 Fe / NFe 模式
自動切換適當單位(Auto-range)
V型凹槽設計,可測量圓管或不平表面
適合嚴苛作業現場使用
自動關機功能
可選購外接式測頭
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